普析通用 XD6多晶衍射儀

XD6型多晶X射線衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品在XD3基礎上設計，測角儀掃描半徑可在150～285mm范圍內連續可調。該功能使得用戶可以在儀器測角分辨率和測試衍射線強度之間進行均衡選擇，自行設定需要的試驗條件，滿足不同情況試驗需求。為了提高實驗效率，XD6提高了快速轉動速度，達到1800°/min。

• 結構新，采用*進的立式測角儀結構，更加方便的樣品放置方式，對于操作、維護的工作力度大為簡化，更加直觀的使用，便于清理實驗后的樣品臺。

• 采用細分驅動電源技術，精度高，重現性達到0.0005°、測量重復性0.001°、最小步進角度0.0001°,掃描半徑連續可調；

• 進口NaI閃爍晶體計數探測器，分辨率及長期使用穩定性好；

• X射線管套采用整體銅棒材加工定位精度、射線防護性更好；采用了轉輪式快門，開關速度更快，故障率更低，射線阻斷性更好，機柜外輻射劑量低于0.2μSv/h（國標規定要求低于2.5μSv/h）；

• X射線光源的數字控制電路作了進一步的改善，X光機的工作功率*由計算機遙控設定。高壓與管流的加載過程受微電腦控制自動操作，使用更加簡單，運行更加可靠；

• 中文視窗操作界面，全新改版的PDP衍射數據處理軟件包。在數據輸出多樣性方面作了重大改進。

配置名稱

XD6

X射線管

（Cu靶國產）

種類

Cu靶，NF型（其它靶材可選）

功率

2.0kW

焦點

1.0×10mm²

X射線發生器

最大輸出

4KW

X光管電壓

15~60kV，1kV /Step

X光管電流

6~80mA，1mA /Step

管電壓、管電流穩定度

≤0.01％（電源低壓浮動10％）

測角儀

測角儀結構

θs－2θd(XD2)  θs－θd(XD3)

測角儀掃描半徑

150～285mm連續可調

掃描角度范圍

-30~80°（θs）

-30～160°（θd）

工作方式

連續掃描、定時步進掃描、定數步進掃描

連續掃描速度

0.125～120°/min

高轉速可達到

1800°/min

2θ角重復精度

≤0.0005°

最小步進角度

0.0001°

測量準確度

≤0.001°

發散狹縫（DS）

1/6°、1/2°、1°、2°

防散射狹縫(SS)

1/2°、1°、2°

接收狹縫(RS)

0.1，0.15，0.3，0.45，0.6，1，2mm

調整狹縫

0.02mm

檢測器

計數器

晶體類型

NaI

脈沖幅度分析器（HV/PHA）

輸出高壓0～1000V，穩定性≤0.01％（8h）

機柜

機柜尺寸（mm）

1200（長）×400（寬）×1850（高）

整機重量（kg）

500

觀察窗（mm）

600（高）×400（寬）×10（厚）鉛玻璃

X射線泄露量

≤0.1μSv/h（未扣除天然本底）

安全措施

門聯鎖保護（門到位置，光閘才打開，產生X射線）

濾波器

Ni濾片

對應Cu靶

石墨彎晶單色器

反射效率η≥28％

綜合指標

整機綜合穩定度

≤0.3％